经常有人拿X-RAY检测设备与AOI光学检测做比较，非要分出高下，骅飞科技只能说这是外行人的见解。任何一个产品的出现，都不是为了比较，特别是不同类的产品，比较又从何说起?

　　为此，际诺斯电子(JEENOCE)专门聊一聊关于X-RAY检测设备与AOI光学检测的相同与不同之处。

　　X-RAY，又称X射线或X光，具有很强的辐射，可穿透如金属、塑胶、木板、陶瓷等非透明材质的物体，随着科学技术的发展，目前被广泛运用于无损检测领域，用于检测产品内部是否存在缺陷，如封装后的IC、已贴装后的PCBA、BGA等等，对于不了解X射线的可以注意下体检所使用的胸透检测，也是X射线的一种，只不过其辐射剂量低，避免因辐射剂量过大造成身体健康的损伤，而且这种辐射伤害是不可逆的。

　　AOI光学检测，属于外观检测，可以放大观察细微的痕迹瑕疵，可以算是一种模式化的人工目检，这样就好理解多了，就是眼睛可以看到的，AOI也可以，只不过AOI可以放大，而眼睛需要借助放大镜，但整体效果是一样的。AOI光学检测多用于检测产品表面上的印字、缺损等。

　　对比一下即可明白X-RAY检测与AOI检测的区别，AOI只能看到表面上的物体，对于被遮挡的则看不到;而X-RAY可以看到被遮挡的物体，这也是其能被用于工业检测的一个关键，如BGA，CSP，倒装芯片，QFN，双行QFN，DFN和其他缺陷，还可检测印刷电路板，封装组件，连接器等的焊点及内部损坏等等等等。

　　看完这些，就会明白X-RAY与AOI虽然都是检测，但作业方式不同，一个检测外观、另一个检测内部，根本无任何可比性，所以很多SMT加工厂会同时选择这两款设备作为品质检测的主要工具。